Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
Technické články | 2020 | Agilent TechnologiesInstrumentace
Optické vrstvy a vícevrstvé povlaky hrají klíčovou roli v řadě aplikací od optiky ve výzkumu až po průmyslové a spotřebitelské výrobky. Přesné stanovení odrazivosti a propustnosti vrstev je nezbytné pro návrh, kontrolu kvality i zpětné inženýrství složitých vrstevnatých systémů. Metoda vícerozměrné UV-Vis-NIR spektrofotometrie umožňuje získat bohatá data potřebná k optimalizaci depozičních procesů a zaručuje vysokou spolehlivost výsledků.
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
ZaměřeníMateriálová analýza
VýrobceAgilent Technologies
Souhrn
Význam tématu
Optické vrstvy a vícevrstvé povlaky hrají klíčovou roli v řadě aplikací od optiky ve výzkumu až po průmyslové a spotřebitelské výrobky. Přesné stanovení odrazivosti a propustnosti vrstev je nezbytné pro návrh, kontrolu kvality i zpětné inženýrství složitých vrstevnatých systémů. Metoda vícerozměrné UV-Vis-NIR spektrofotometrie umožňuje získat bohatá data potřebná k optimalizaci depozičních procesů a zaručuje vysokou spolehlivost výsledků.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
2023|Agilent Technologies|Příručky
Applications of UV-Vis-NIR Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy Application Compendium > Return to table of contents Table of contents Introduction 4 Optics 5 Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Evaluation of the Cary Specular Reflectance Accessory for…
Klíčová slova
optical, opticalreturn, returnreflectance, reflectancecontents, contentstable, tableangle, angleincidence, incidencemeasurements, measurementswavelength, wavelengthtransmittance, transmittancereflection, reflectionspectrophotometer, spectrophotometermeasurement, measurementcoating, coatingbeam
Optical Characterization of Thin Films
2022|Agilent Technologies|Aplikace
Application Note Materials Optical Characterization of Thin Films Using a Universal Measurement Accessory for Agilent Cary UV-Vis-NIR spectrophotometers Authors Robert Francis and Travis Burt Agilent Technologies, Inc. Mulgrave, Victoria Australia Introduction A more detailed account of this work was first…
Klíčová slova
angle, angleoptical, opticalfilms, filmsthin, thinincidence, incidenceengineering, engineeringuma, umamulti, multireverse, reversemeasurement, measurementreflectance, reflectancespectral, spectralcoatings, coatingsmultilayer, multilayeraccessory
Molecular Spectroscopy Application eHandbook
2017|Agilent Technologies|Příručky
Home Previous Next TABLE OF CONTENTS COATING CHALLENGES INSTRUMENT OVERVIEW + MEASUREMENTS OF COATINGS OTHER COATING TECHNOLOGIES GATHER RICH INSIGHTS FROM COATINGS ANALYSIS Molecular Spectroscopy Application eHandbook Home Previous Next TABLE OF CONTENTS COATING CHALLENGES INSTRUMENT OVERVIEW + MEASUREMENTS OF…
Klíčová slova
ftir, ftircoating, coatingcoatings, coatingsmeasurements, measurementsreinforced, reinforcedpet, petanodization, anodizationthickness, thicknessaluminum, aluminumfiber, fibereasuring, easuringreflectance, reflectancehome, homeautoclave, autoclaveidentification
High Volume Optical Component Testing
2020|Agilent Technologies|Aplikace
Application Note Materials testing and research High Volume Optical Component Testing Using an Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS) with Solids Autosampler Author Introduction Travis Burt Manufacturers of high quality multilayer optical coatings require reliable methods to accurately measure…
Klíčová slova
angle, angleincidence, incidencereflectance, reflectancetransmittance, transmittanceoptical, opticalmeasurements, measurementsums, umsmps, mpsuma, umapol, polcoatings, coatingsaoi, aoiabsolute, absolutepatch, patchspecular
