Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Příručky | 2023 | Agilent TechnologiesInstrumentace
UV-Vis-NIR spektrofotometrie představuje univerzální a neinvazivní metodu pro charakterizaci široké škály materiálů a optických komponent. Díky schopnosti měřit transmitanci, reflektanci a absorpci v rozsahu 175–3300 nm a v rozličných módech—včetně izokinetických, difúzních, integrálních či variabilně úhlových—se stala klíčovým nástrojem ve výzkumu tenkých vrstev, optických povlaků, polovodičů, keramických skel, katalyzátorů i osobních ochranných prostředků.
Cílem předloženého souboru aplikačních poznámek je ukázat praktické využití Agilent Cary UV-Vis-NIR spektrofotometrů (Cary 4000, 5000, 6000i) a univerzálního měřicího příslušenství Cary 7000 UMS s doplňky jako UMA, DRA-2500, Praying Mantis či Solids Autosampler. Studie představují řešení pro:
Speciální vlastnosti řešení:
Agilent Cary UV-Vis-NIR spektrofotometry spolu s modulárním příslušenstvím představují nejvýkonnější a nejflexibilnější platformu pro kompletní spektrofotometrickou charakterizaci materiálů a optických komponent v UV-Vis-NIR. Kromě měření klasických kapalin a roztoků umožňují ověřené metody studium tenkých filmů, skel, polovodičů, katalyzátorů i ochranných pomůcek s vysokými optickými hustotami, a to s nejvyšší možnou rychlostí, citlivostí, přesností a automatizací.
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
ZaměřeníPrůmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
VýrobceAgilent Technologies
Souhrn
Význam tématu
UV-Vis-NIR spektrofotometrie představuje univerzální a neinvazivní metodu pro charakterizaci široké škály materiálů a optických komponent. Díky schopnosti měřit transmitanci, reflektanci a absorpci v rozsahu 175–3300 nm a v rozličných módech—včetně izokinetických, difúzních, integrálních či variabilně úhlových—se stala klíčovým nástrojem ve výzkumu tenkých vrstev, optických povlaků, polovodičů, keramických skel, katalyzátorů i osobních ochranných prostředků.
Cíle a přehled studie
Cílem předloženého souboru aplikačních poznámek je ukázat praktické využití Agilent Cary UV-Vis-NIR spektrofotometrů (Cary 4000, 5000, 6000i) a univerzálního měřicího příslušenství Cary 7000 UMS s doplňky jako UMA, DRA-2500, Praying Mantis či Solids Autosampler. Studie představují řešení pro:
- karakterizaci podpovrchových výkonových vysokopřesných filtrů s rozlišením do subnanometrových pásů,
- měření optických konstant a tloušťky tenkých vrstev (tenké filmy, multilayer povlaky),
- vyhodnocení optické aktivity (dichroismu) a disperze indexu lámejícího,
- řešení pro mapování map optických vlastností na velkých vzorcích (čipy, wafers do Ø 200 mm),
- případové studie optických komponent: kostkové beam-splittery, polárně závislé zrcadla, vysoce reflexní multilayer hrany,
- kvalitu personálních ochranných pomůcek proti laserové radiaci s OD až 8 Abs v NIR a průtokové analyzátory pro bizarní absorpční spektra katalyzátorů.
Použitá metodika a instrumentace
Speciální vlastnosti řešení:
- Cary 4000 (175–900 nm): extrémně nízký šum a vysoká lineární dynamika.
- Cary 5000 (175–3300 nm): PbSmart>PbS detektor pro plynulé UV-Vis-NIR pokrytí.
- Cary 6000i (175–1800 nm): InGaAs detektor pro špičkovou NIR citlivost.
- Cary 7000 UMS: variabilní měření transmitance a absolutní reflektance na jednom vzorku bez přesazování, v AOI 0–85° i ± po obou stranách, s polarizací S/P, difúzní i izokinetický mód.
- Praying Mantis: vysokoteplotní komora pro reálné sledování katalytických reakcí v prachových palivových buňkách.
- Solids Autosampler: plně automatizované mapování optických vlastností na vícesamples nebo waferech Ø 32 mm až 200 mm.
- DRA-2500 + External: integrační koule pro vysoce přesné difúzní reflektance (např. fotovoltaika, sklo).
Hlavní výsledky a diskuse
- Subnanometrové směrové pásové filtry: FWHM až 0,12 nm, stabilita ±0,05 nm při T±5 °C a úhlu spotu 0,6°.
- Tloušťka a optické konstanty tenkých filmů (Ta2O5, SiO2) s ≤0,1 % reprodukovatelností v AOI 7–40°.
- Analýzy obtížně přístupných tenkých vrstev (e-beam vakuum posazení HfO2/SiO2, refractive index závislý na tloušťce filmu).
- Hyphenované charakterizace reflexních vícevrstevných pásových splitterů a high-reflectorů, včetně přesného zpětného inženýrství designu podle víceúhlových spekter.
- Mapování band-gapu a transmitance gradovaných ZTO vrstev na vícebodových kolejnicích waferu Ø 100 mm s rozlišením 5 mm.
- In situ vysokotlaký UV-Vis-NIR monitoring prachových katalyzátorů Ni/Al2O3 v reálném čase do T = 250 °C a stopových odchylek ve vodním přídatku a oxidačním stavu Ni2+.
- Kontrola vysokých optických hustot (OD≤8 Abs) pro laserově chráněná brýlová skla v NIR; potvrzení fotometrické linearity a přesnosti do 8 Abs při λ ~1200 nm.
Přínosy a praktické využití metody
- Unifikované řešení pro R&D i QA/QC: měření T, R, A, indexu lomu, tloušťky, absorpce, multi-úhlových a difúzních spekter bez výměny příslušenství.
- Plná automatizace (Autosampler, UMA) usnadňuje „overnight“ sběr stovek spekter s minimálním dohledem.
- Extremně vysoký signal-to-noise a dynamický rozsah pro měření slabých i velmi silně absorbujících vzorků.
- Možnost kontroly stabilizace (teplota, doplňky), rychlé spojení odpovědí in situ a ex situ pro optimalizaci výrobních procesů.
Budoucí trendy a možnosti využití
- Integrované mappingové a hyperspektrální techniky pro průmyslové 100 % inline kontroly roll-to-roll povlaků a plošných výkonových modulů.
- Pokročilé multi-úhlové a polarizační mikrospektroskopie pro biologii a nanomateriály.
- Rozšíření do terahertz (THz) a krátkovlnné IR oblasti pomocí nových detektorů a rozšiřujících k modulů.
- Spojení s chemometrickou analýzou a strojovým učením pro automatizované rozpoznávání a validaci vzorků.
Závěr
Agilent Cary UV-Vis-NIR spektrofotometry spolu s modulárním příslušenstvím představují nejvýkonnější a nejflexibilnější platformu pro kompletní spektrofotometrickou charakterizaci materiálů a optických komponent v UV-Vis-NIR. Kromě měření klasických kapalin a roztoků umožňují ověřené metody studium tenkých filmů, skel, polovodičů, katalyzátorů i ochranných pomůcek s vysokými optickými hustotami, a to s nejvyšší možnou rychlostí, citlivostí, přesností a automatizací.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
2020|Agilent Technologies|Technické články
Application Note Materials testing and research Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors Multi-angle UV-Vis-NIR measurements of multiple layer optical coatings Author Introduction David Death Farinaz Haq Agilent Technologies, Australia Optical coatings and coating technologies have matured over many years…
Klíčová slova
incidence, incidencemeasurements, measurementscoating, coatingtransmittance, transmittancesitu, situnormal, normalcoatings, coatingsoptical, opticalreflectance, reflectancelayer, layerreverse, reverseengineering, engineeringaoi, aoisuprasil, suprasildeposited
High Volume Optical Component Testing
2020|Agilent Technologies|Aplikace
Application Note Materials testing and research High Volume Optical Component Testing Using an Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS) with Solids Autosampler Author Introduction Travis Burt Manufacturers of high quality multilayer optical coatings require reliable methods to accurately measure…
Klíčová slova
angle, anglereflectance, reflectanceincidence, incidencetransmittance, transmittanceoptical, opticalmeasurements, measurementsums, umsuma, umamps, mpspol, polcoatings, coatingsaoi, aoispecular, specularpatch, patchabsolute
Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
2022|Agilent Technologies|Aplikace
Application Note Materials Gaining Deeper Insights into Thin Film Response Overcoming spectral oscillations using the Agilent Cary universal measurement accessory Authors Robert Francis and Travis Burt Agilent Technologies, Inc. Mulgrave, Victoria Australia Introduction A more detailed account of this work…
Klíčová slova
nonuniformity, nonuniformitytransmittance, transmittancelosses, lossesthin, thinaoi, aoioscillations, oscillationsfilm, filmaccessory, accessorythickness, thicknessreflectance, reflectanceuma, umatotal, totaloptical, opticalwavelength, wavelengthangles
A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters
2022|Agilent Technologies|Aplikace
Application Note Materials A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters Using the Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer (UMS) Authors Abstract Travis Burt and Chris Colley Agilent Technologies Mulgrave, Victoria, Australia Cube beamsplitters (CBS) are critical optical components…
Klíčová slova
polarized, polarizedcoating, coatingbeamsplitter, beamsplittercbs, cbswavelength, wavelengthbeamsplitters, beamsplitterscube, cubeoptical, opticalbeam, beampolarization, polarizationincident, incidentreflected, reflectedangle, anglefilm, filmillumination