LCMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Agilent Cary Universal Measurement Accessory (UMA)

Technické články | 2013 | Agilent TechnologiesInstrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Souhrn

Význam tématu


Analytická charakterizace optických vlastností materiálů je klíčová pro výzkum a průmyslové aplikace v oblastech tenkých vrstev, povlaků, optiky, skla a solární energetiky. Přesné a opakovatelné měření reflexe, transmisivity a rozptylu při různých úhlech a polarizacích usnadňuje vývoj nových materiálů, kontrolu kvality ve výrobě a optimalizaci výkonu finálních produktů.

Cíle a přehled studie / článku


Technický přehled představuje zařízení Agilent Cary Universal Measurement Accessory (UMA) určené pro spektrofotometry Cary 4000/5000/6000i/7000 UV-Vis a UV-Vis-NIR. Hlavním cílem je popsat schopnosti UMA automaticky a bez dohledu měřit absolutní spekulární reflexi, transmisi a rozptyl v širokém úhlovém rozsahu a různých polarizacích.

Použitá metodika a instrumentace


UMA využívá nezávislého pohybu detektoru a vzorku řízeného vysoce přesným optickým enkodérem (rozlišení 0,02°). Optická dráha obsahuje drátové mřížkové polarizátory s vysokou propustností a přesností, „Direct View“ dvoubarevný detektor Si/InGaAs pro spektrální rozsah 190–2800 nm a variabilní polarizér (250–2500 nm). K dispozici jsou vzorkové držáky pro průměry 5–275 mm a různé detektorové a vstupní apertury pro řízení úhlového rozptylu (1–6°). Instalace UMA je rychlá díky zámkovému mechanizmu, bez nutnosti rekalibrace spektrofotometru.

Hlavní výsledky a diskuse


Implementace UMA přináší:
  • Možnost jednorázového sběru nulové linky pro všechny měření R i T při zvolené polarizaci, což zkracuje dobu analýzy.
  • Vysokou přesnost a opakovatelnost dat díky stabilní poloze detektoru a vzorku i při otřesech.
  • Flexibilitu měření: spekulární reflexe od 5° do 85°, přímá a úhlová transmise 0–90°, difúzní rozptyl v rozsahu 10–350°.
  • Absorptanci počítanou jako A=1–R–T bez přesouvání vzorku.

Přínosy a praktické využití metody


UMA nachází uplatnění v praxi:
  • Kontrola kvality povlaků a tenkých vrstev: měření tloušťky, uniformity, optických konstant n a k.
  • Testování optických komponent a skla dle norem EN410, ISO9050, EN13837.
  • Vývoj a ověření solárních reflektorů a fotovoltaických modulů – optimalizace optických parametrů.
  • Vědecký výzkum nanokompozitů, Braggových mřížek a povrchových plasmonů.

Budoucí trendy a možnosti využití


Očekává se rozšíření UMA o automatizované vzorkovací systémy a pokročilé softwarové algoritmy pro modelování vícevrstvých struktur. Integrace s robotizovanými linkami a umělou inteligencí umožní komplexní on-line kontrolu výroby a rychlejší vývoj nových materiálů s řízenými optickými vlastnostmi.

Závěr


Agilent Cary UMA představuje univerzální a vysoce výkonnou přílohu ke spektrofotometrům, která zvyšuje produktivitu a kvalitu optických měření. Díky přesnému řízení úhlů, modulární konstrukci a širokému spektrálnímu rozsahu je vhodná jak pro výzkum, tak pro rutinní QA/QC v průmyslu.

Reference


  • Agilent Technologies. Technical Overview of Cary Universal Measurement Accessory. May 30, 2013. Publication number: 5991-2529EN.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control
Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control
2024|Agilent Technologies|Technické články
Technical Overview Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control Benefits of the Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer with high f-number apertures for superior data quality and accuracy Authors Wesam Alwan and Travis Burt Agilent Technologies, Inc. Introduction In spectroscopy,…
Klíčová slova
uma, umacollimation, collimationapertures, aperturesbeam, beamaoi, aoicary, carysteepness, steepnessvertical, verticaldegree, degreeplane, planeaperture, aperturevis, visquality, qualitymeasurement, measurementhorizontal
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Applications of UV-Vis-NIR Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy Application Compendium > Return to table of contents Table of contents Introduction  4 Optics  5 Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters  Evaluation of the Cary Specular Reflectance Accessory for…
Klíčová slova
optical, opticalreturn, returnreflectance, reflectancecontents, contentstable, tableangle, angleincidence, incidencemeasurements, measurementswavelength, wavelengthtransmittance, transmittancereflection, reflectionspectrophotometer, spectrophotometermeasurement, measurementcoating, coatingbeam
Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer
Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer
2022|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Advance Your Materials Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer A More Powerful Approach to Measuring Solid Samples Do you measure the optical properties of coatings, thin films, optical components, solar cells, or glass? Do you measure reflectance AND transmission? Do…
Klíčová slova
optical, opticalreflectance, reflectancetransmission, transmissioncary, carynir, nirsolar, solarabsolute, absolutewavelength, wavelengthvis, viswinuv, winuvyour, yourmeasurements, measurementsmaterials, materialsmoving, movingscattering
Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers
Application Note Materials testing and research Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers Efficient handling of large samples and multiple UV-Vis-NIR reflectance measurements using fully automated sample handling Author Travis Burt Fabian Zieschang Agilent Technologies, Inc. Parts of this work…
Klíčová slova
wafer, waferreflection, reflectionoptical, opticalpolarization, polarizationincidence, incidencecoating, coatingautosampler, autosamplerincident, incidentangle, angleuma, umabeam, beampatch, patchangles, anglesmapping, mappinguniformity
Další projekty
GCMS
ICPMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.