Identifikace a screening látek ve forenzní analýze pomocí Plasmion SICRIT iontového zdroje ve spojení s MS detekcí

Altium International ve spolupráci s Plasmionem Vás srdečně zvou na dopolední workshop, ve kterém se dozvíte principy a využití ionizační techniky SICRIT® ( Soft Ionization by Chemical Reaction in Transfer). Tato technika je vhodná pro rychlou kvalitativní i kvantitativní analýzu vzorků bez nutnosti jejich přípravy, a proto nachází využití ve forenzních laboratořích, které chtějí získat velmi rychlou informaci o identitě neznámého vzorku.

• Kdy: čtvrtek 5. 2. 2026
• Kde: Sídlo Altium International, Na Jetelce 69/2, Praha 9

V praktické části workshopu Vám potom předvedeme přímou analýzu reálných vzorků pomocí iontového zdroje SICRIT ve spojení Agilent 6475 QQQ MS detekcí a vyhodnocením pomocí SW MassHunter.

Hostem a průvodcem workshopu RNDr. Jan Buček z firmy Plasmion. 

Přihlášení na workshop ZDE

Účast je bezplatná.

Program:

9:00 Přivítání a úvod

9:30 Plasmion GmbH – kdo jsme a co děláme

10:00 SICRIT Technology – aplikační možnosti

10:30 Přestávka na kávu

11:00 – 12:30 Praktická demonstrace iontového zdroje SICRIT a měření vzorků s detekcí Agilent LC/MS QQQ

12:30 Obědové občerstvení

13:00 Závěr a zakončení workshopu

Těšíme se na setkání!

Pro další informace kontaktujte:

• Jitka Zrostlíková (Manažer obchodu skupiny analytická instrumentace a produktový specialista (LC/MS, GC/MS QQQ, QTOF))
• 606 047 034
• [email protected]